共有2個產(chǎn)品

• 電磁鐵變場探針臺霍爾測試系統(tǒng) HSEM-06PS

  HSEM-06PS室溫變場探針臺霍爾測試系統(tǒng)可以放置最大4英寸的晶圓樣品，采用多孔分區(qū)控制氣體吸附固定，能提供可變的磁場環(huán)境，磁場大小±0.6T ,可安裝6個探針臂。外部連接其他電測儀表可在室溫下對芯片、晶圓和器件進行非破壞電學(xué)測試，比如不同磁場下電流、電壓、電阻等電學(xué)信號等。

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• 電磁鐵變溫變場霍爾效應(yīng)測試系統(tǒng)HSEM系列

  HSEM系列電磁鐵霍爾效應(yīng)測試系統(tǒng)由電磁鐵、霍爾測試儀、控制器、樣品變溫選件等部分組成。有連續(xù)可變的磁場環(huán)境，可選±0.8T或±1.5T兩種配置，有較豐富的溫度選件，包含：室溫、液氮單點、10K-400K閉循環(huán)低溫選件、室溫-1273K高溫選件。

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